概要
これまで人手による外観検査では、検査員による判定のばらつきや生産数量の伸び悩みが課題でした。KDSは、検査の統一性と処理能力向上を目的にインデックス方式の画像検査機を導入。その結果、各検査項目のばらつきを解消、目標タクトタイム1.4秒に対し1.0秒を達成、検査数量を大幅に向上といった成果を実現し、品質と生産性の両立を可能にしました。
仕様
| 装置サイズ | W1800×D1400×H1600 |
| サイクルタイム | 1.0s/個 |
| 製作期間 | 6ヶ月 |
※個々の事例の詳細についてはお問い合わせください。



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電子部品、半導体
これまで人手による外観検査では、検査員による判定のばらつきや生産数量の伸び悩みが課題でした。KDSは、検査の統一性と処理能力向上を目的にインデックス方式の画像検査機を導入。その結果、各検査項目のばらつきを解消、目標タクトタイム1.4秒に対し1.0秒を達成、検査数量を大幅に向上といった成果を実現し、品質と生産性の両立を可能にしました。
仕様
| 装置サイズ | W1800×D1400×H1600 |
| サイクルタイム | 1.0s/個 |
| 製作期間 | 6ヶ月 |
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